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介电常数及介质损耗测试仪产品介绍及设备优势

 发布时间:2019-09-11 点击量:42

介电常数及介质损耗测试仪产品介绍及设备优势

 

 

一、产品介绍

绝缘材料高频介质损耗测试系统由S916测试装置(夹具)、QBG-3E/QBG-3F/AS2853A型高频Q表、数据采集和tanδ自动测量控件(装入QBG-3E/QBG-3F或AS2853A的软件模块)、及LKI-1型电感器组成。它依据国标GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美标ASTM D150以及国际电工委员会IEC60250的规定设计制作。

系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的较好解决方案。本仪器中测试装置是由平板电容器组成,平板电容器一般用来夹被测样品,配用Q表作为指示仪器。绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的Q值变化和厚度的刻度读数通过公式计算得到。使用QBG-3E或AS2853A数字Q表具有自动计算介电常数(ε)和介质损耗

(tanδ)。

 

二、设备优势

1. DDS数字直接合成的信号源,确保信源的高葆真、幅度的高稳定。频率精准到0.1Hz,确保高Q值时测量的精准度远超DPLL信号源。Q分辨率至0.1Q,tanδ分辨率至0.00001。

2. 双扫描技术-测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。

3. 双数码化调谐-数码化频率调谐,数码化电容调谐。

4自动化测量技术-对测试件实施Q值、谐振点频率和电容的自动测量。

5计算机自动修正技术和测试回路优化一使测试回路残余电感减至最低,彻底根除Q读数值在不同频率时要加以修正的困惑,保证100MHz的(tanδ)和(ε)的误差较小。

6. 能对固体绝缘材料在100kHz100MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。

7. 大屏幕菜单式显示多参数:介电常数(ε),介质损耗角(tanδ),Q值,测试频率,调谐状态和调谐电容值等。

8. DSS数字合成信号发生10kHz70MHz(QBG-3E),10kHz110MHz(QBG-3F),50kHz 160MHz(AS2853A)测试信号。独立信号源输出口,所以本机又是一台合成信号源。

9. Q值量程自动/手动量程控制。

北京华测试验仪器有限公司(www.huaceyq.cn)主营:介电击穿强度试验仪(电压击穿试验仪),静电系列,表面体积电阻率测度仪,电痕化指数试验仪,耐电弧试验仪,冲击电压试验仪,万能材料试验机,薄膜冲击试验机,落锤式冲击试验机,

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